碳紙平面低電阻率測定儀

簡要描述：碳紙平面低電阻率測定儀標準電阻（選購）規(guī)格：1mΩ、10mΩ、100mΩ、1Ω、10Ω、1kΩ、10kΩ、100kΩ、1MΩ

更新時間：2024-07-17

產(chǎn)品型號：BEST-300C

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

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產(chǎn)品詳情

品牌	北廣精儀	產(chǎn)地類別	國產(chǎn)
類型	數(shù)字式電阻測試儀	應用領域	能源,電子,交通,電氣

碳紙平面低電阻率測定儀標準（ASTM F84）及國標設計制造；GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》.碳紙平面低電阻率測定儀的電學性質(zhì)。四探針電導率測量方法是通過在材料表面放置四個電極，其中兩個電極用于施加電壓，另外兩個電極用于測量電流，從而測量材料的電導率。四探針電導率測量方法的優(yōu)點是可以減少電極接觸電阻對測量結(jié)果的影響，從而提高測量精度。此外，四探針電導率測量方法還可以用于測量高電導率材料，如金屬和導體。四探針電導率測量方法的原理是根據(jù)歐姆定律，電流與電壓之間的關系是線性的。當施加電壓時，電流通過材料，根據(jù)歐姆定律，電流與電壓之間的關系可以表示為I=V/R，其中I是電流，v是電壓。

規(guī)格型號/ model	BEST-300C
1.方塊電阻sheet resistance	10-5～2×105Ω/□
2.電阻率Resistivity	10-6～2×106Ω-cm
3.測試電流Test current	0.1μA.μA.0μA，100µA，1mA，10mA，100mA
4.電流精度Current	±0.1%
5.電阻精度Resistance	≤0.3%

四探針電導率測量方法的應用非常廣泛，例如在半導體材料研究中，可以用四探針電導率測量方法來研究半導體材料的電學性質(zhì)。此外在材料工程中，四探針電導率測量方法也可以用于研究材料的導電性能，從而優(yōu)化材料的性能。四探針電導率測量方法是一種非常重要的測量材料電學性質(zhì)的方法它可以用于研究材料的電導率，從而為材料研究和工程應用提供重要的參考。